產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
Park XE7配有Park Systems的所有技術(shù)，而且價(jià)格十分親民。XE7在細(xì)節(jié)的設(shè)計(jì)上也相當(dāng)用心，是幫助您準(zhǔn)確且不超預(yù)算地完成研究的理想之選。
在同級(jí)產(chǎn)品中，Park XE7能夠帶來(lái)最高納米級(jí)分辨率的測(cè)量效果。得益于DU特的原子力顯微鏡架構(gòu)，即獨(dú)立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測(cè)量，從而精確成像和測(cè)量樣品的特征。此外，Park所獨(dú)DU有的True Non-Contact™模式還能為您帶來(lái)前SUO未有的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會(huì)受影響。
滿足當(dāng)前和未來(lái)需求
在Park XE7的幫助下，現(xiàn)在與未來(lái)皆在您的掌控中。Park XE7帶有業(yè)內(nèi)樶quan面的測(cè)量模式。這些模式不僅能滿足您目前的需求，也考慮到未來(lái)不斷變化的需求。再者，XE7具有市場(chǎng)上最為開(kāi)放性的設(shè)計(jì)，允許您整合其他附件和儀器，從而滿足您特殊的研究需求。
易于使用和高生產(chǎn)率
Park XE7擁有簡(jiǎn)潔的圖形用戶界面和自動(dòng)化工具，即便是初學(xué)者也可以快速地完成對(duì)樣品的掃描。無(wú)論是預(yù)準(zhǔn)直探針、簡(jiǎn)單的樣品和探針更換、輕松的激光準(zhǔn)直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理，XE7能夠全力推動(dòng)研究效率的提高。
經(jīng)濟(jì)實(shí)惠超越了系統(tǒng)成本
Park XE7不僅僅是最高性?xún)r(jià)比的研究級(jí)原子力顯微鏡，也是使用成本樶低的原子力顯微鏡。Park XE7中所搭載的True Non-Contact™模式讓用戶無(wú)需頻繁更換昂貴的探針JIAN端，并且它配有業(yè)內(nèi)最多的掃描模式，兼容性極+，讓您可隨時(shí)升級(jí)系統(tǒng)功能，從而延長(zhǎng)產(chǎn)品的使用壽命。
以DSP為核心的電路控制系統(tǒng)
原子力顯微鏡的納米級(jí)信號(hào)是由高性能的Park XE電子控制器所控制和處理的。憑借著低噪聲設(shè)計(jì)和高速處理單元，Park XE電子控制器成功實(shí)現(xiàn)了True Non-ContactTM模式，這是納米級(jí)成像和精確電壓電流測(cè)量的選擇。
■高性能DSP，頻率達(dá)600MHz，處理速度高達(dá)4800MIPS
■低噪聲設(shè)計(jì)，帶來(lái)精確的電流電壓測(cè)量
■全能系統(tǒng)，融合各種掃描探針顯微鏡技術(shù)
■外部信號(hào)獲取模塊，獲取原子力顯微鏡輸入/輸出信號(hào)
■最大16位數(shù)字圖像
■最大16位數(shù)字圖像
■16位ADC/DAC，頻率為500kHz
■利用TCP/IP連接隔離電腦噪聲
韓國(guó)帕克原子力顯微鏡Systems XE7特點(diǎn)
★ 精確的XY方向掃描，消除了交叉耦合誤差
■樣品探針和針尖的兩種獨(dú)立閉環(huán)XY和Z平板式掃描
■平板式和線性XY掃描，殘余彎曲誤差極小
■整個(gè)掃描范圍內(nèi)的水平線性誤差小于2nm
■精確的高度測(cè)量
★ Non-ContactTM(真正非接觸TM)模式能夠延長(zhǎng)針尖壽命，提供高分辨率和保護(hù)樣品。
■其Z伺服速度是壓電管基礎(chǔ)系統(tǒng)的10倍
■非接觸式可降低針尖摩損、延長(zhǎng)使用壽命
■成像分辨率優(yōu)于同類(lèi)原子力顯微鏡
■增強(qiáng)樣品兼容性，提高掃描速度
★ 樶豐富的功能拓展方案
■支持多種SPM模式
■多種可選配測(cè)量模式
■多種可選配件及更新，擴(kuò)展性能*
★ 樶為便利的使用設(shè)計(jì)
■開(kāi)放式樣品空間，提高樣品及針尖更換效率
■預(yù)對(duì)準(zhǔn)針尖安裝和同軸直視光路直觀地實(shí)現(xiàn)激光對(duì)準(zhǔn)
■燕尾鎖方便鏡頭拆卸
